近日，深圳市大為創(chuàng)芯微電子科技有限公司（以下簡稱“大為創(chuàng)芯”）申報的“[外觀設(shè)計]接口轉(zhuǎn)接板（NGFF轉(zhuǎn)SATA）”專利喜獲國家知識產(chǎn)權(quán)局授權(quán)，標志著大為創(chuàng)芯在創(chuàng)新研發(fā)領(lǐng)域又邁上一個新臺階。

本外觀設(shè)計提供一種便攜的測試NGFF轉(zhuǎn)SATA的測試裝置的結(jié)構(gòu)設(shè)計，可以輕松地通過SATA接口連接線與主板連接，有效地避免了在直接安裝時需要使用螺絲將待測的NGFF接口的SSD固定在主板上的麻煩，減少了測試時間，提高了效率。同時，它還具有足夠的耐用性和穩(wěn)定性，可以在多次使用中保持其原有的性能和精度。此外，它的便攜性使其易于在各個實驗室或工作場所之間移動，為需要測試NGFF轉(zhuǎn)SATA適配器的用戶提供了極大的便利。

大為創(chuàng)芯在半導(dǎo)體存儲行業(yè)持續(xù)投入發(fā)展10余年，是一家集研發(fā)、設(shè)計、銷售于一體的存儲方案提供商，始終堅持創(chuàng)新驅(qū)動，注重研發(fā)投入，不斷推出符合市場需求的新產(chǎn)品和技術(shù)。未來，大為創(chuàng)芯將繼續(xù)加強技術(shù)創(chuàng)新，不斷加大研發(fā)投入，提升產(chǎn)品研發(fā)水平和市場競爭力。